麻涌回收平板DDR5电脑内存颗粒 样式优雅

查看存储剩余空间不足，请您参考以下方法排查：

1、清理存储空间：

• 建议卸载不常用的应用，下载过多应用会占用较大内存；

• 进入手机管家, 选择清理加速并勾选需要清理的数据 ,点击 删除 (已选 )，您还可以使用一键优化，根据扫描结果及清理建议，释放存储空间。

2、检查是否使用了多个多用户/隐私空间：

• 进入手机设置，搜索多用户，查看是否有已创建不使用的多用户，如果有，请您点击多用户，选择删除用户。

• 进入手机设置，搜索隐私空间，查看是否有已创建不使用的隐私空间（显示开启表示您未创建隐私空间，显示进入表示您已创建了隐私空间），如果有，请您点击右上角更多，选择删除隐私空间。

集成电路（IC）芯片在封装工序之后，必须要经过严格地检测才能保证产品的质量，芯片外观检测是一项必不可少的重要环节，它直接影响到 IC 产品的质量及后续生产环节的顺利进行。外观检测的方法有三种：一是传统的手工检测方法，主要靠目测，手工分检，可靠性不高，检测效率较低，劳动强度大，检测缺陷有疏漏，无法适应大批量生产制造；二是基于激光测量技术的检测方法，该方法对设备的硬件要求较高，成本相应较高，设备故障率高，维护较为困难；三是基于机器视觉的检测方法，这种方法由于检测系统硬件易于集成和实现、检测速度快、检测精度高，而且使用维护较为简便，因此，在芯片外观检测领域的应用也越来越普遍，是 IC 芯片外观检测的一种发展趋势。